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紅外光譜是分析化合物結(jié)構(gòu)的重要手段。常規(guī)的透射法使用壓片或涂膜進行測量，對某些特殊樣品( 如難溶、難熔、難粉碎等的試樣) 的測試存在困難。為克服其不足，產(chǎn)生了傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀（Attenuated Total Refraction, ATR）。美信分析采用的紅外光譜儀，常規(guī)方法和ATR都可以使用的先進設(shè)備。ATR的應(yīng)用極大地簡化了一些特殊樣品的測試，使微區(qū)成分的分析變得方便而快捷，檢測靈敏度可達10-9g數(shù)量級，測量顯微區(qū)直徑達數(shù)微米。
衰減全反射技術(shù)（ATR）與常規(guī)紅外分析的優(yōu)勢：
與常規(guī)的紅外技術(shù)相比無需制樣，無需破壞樣品，直接對單絲、布料、成衣進行鑒定，大大提高了檢驗速度；操作方便。實驗結(jié)果表明，該方法操作方便、測量靈敏度高，可得到高質(zhì)量的紅外譜圖。
舉例說明衰減全反射技術(shù)（ATR）與常規(guī)紅外分析的區(qū)別：
由上圖可知，衰減全反射技術(shù)（ATR）與常規(guī)紅外分析的差異在與4000~2000 cm-1區(qū)域ATR的紅外光譜強度較弱。但是在指紋區(qū)的吸收峰與常規(guī)紅外光譜無異，所以不影響譜圖的判斷，圖譜的質(zhì)量相對較高。
衰減全反射技術(shù)（ATR）的原理：
ATR附件基于光內(nèi)反射原理而設(shè)計。從光源發(fā)出的紅外光經(jīng)過折射率大的晶體再投射到折射率小的試樣表面上，當(dāng)入射角大于臨界角時,入射光線就會產(chǎn)生全反射。事實上紅外光并不是全部被反射回來,而是穿透到試樣表面內(nèi)一定深度后再返回表面在該過程中，試樣在入射光頻率區(qū)域內(nèi)有選擇吸收,反射光強度發(fā)生減弱，產(chǎn)生與透射吸收相類似圖,從而獲得樣品表層化學(xué)成份的結(jié)構(gòu)信息。
簡介
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