瑞典XCounter雙能光子計(jì)數(shù)X射線探測器XC-FLITE X系列 http://www.lind.cn/cn/product/product-69-72.html 小平板探測器，直接成像探測器，MINI平板，CdTe-CMOS傳感器，光子計(jì)數(shù)探測器，雙能光子計(jì)數(shù)X射線探測器，X射線探測器，CMOS傳感器，線陣探測器，線陣探測器，平板探測器，微型平板探測器 產(chǎn)品描述 XC-FLITE X1、X2、X3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、自掃描、雙能采集、光子計(jì)數(shù)X射線探測器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型強(qiáng)大的CdTe-CMOS傳感器平臺(tái)研發(fā)而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。 XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時(shí)間延遲總和（TDS）模式，掃描速度較高90mm/s。 引進(jìn)反符合技術(shù)的雙能采集功能，是XC-FLITE X系列產(chǎn)品的先進(jìn)之處，在雙能采集過程中，通過兩個(gè)獨(dú)立的閾值將探測到的光子能量加以比較，并分別讀出，雙能設(shè)置可用作材料分析，這為新的醫(yī)學(xué)和工業(yè)X射線成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的運(yùn)用，確保將每一個(gè)光子信號(hào)分布在適當(dāng)?shù)南袼攸c(diǎn)上，從而獲得更高的能量分辨率。 XC-FLITE X系列的產(chǎn)品內(nèi)部具有一個(gè)精心設(shè)計(jì)的掃描驅(qū)動(dòng)元件，可自動(dòng)控制，整個(gè)掃描過程是完全透明可見的。 集成 XC-FLITE X系列，通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計(jì)算機(jī)上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺(tái) 應(yīng)用 *小范圍輻照 *小動(dòng)物成像 *實(shí)驗(yàn)室樣品和標(biāo)本成像 *工業(yè)檢測（NDT） 特點(diǎn)