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產(chǎn)品名稱：平面光帶檢測儀(機(jī)械密封平面檢測)
LW-9系列平面光帶檢測儀(機(jī)械密封平面檢測)
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選用一級平面平晶 ——隨機(jī)附贈光帶檢測參照圖
用途：
機(jī)械密封件、光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。
功率：20W 電源：220V/50Hz 專用燈源照射
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn)
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來
測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于
計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
