來(lái)自美國(guó)INNOV-X公司第三代便攜式分析儀技術(shù)，2011年版整體設(shè)計(jì)8項(xiàng)專利技術(shù)，超越全球同類(lèi)產(chǎn)品， 1、超高的檢測(cè)精度度高。 2、超高的穩(wěn)定性，超高的重復(fù)性。 3、優(yōu)異的線性相關(guān)性。 4、銠元素陽(yáng)級(jí)本身就提高了2倍檢測(cè)鎂元素的結(jié)果。 5、超大型SDD硅漂移探測(cè)器的使用將從鎂到硫元素的檢測(cè)下限/精度提高了四倍。 6、超大型SDD硅漂移探測(cè)器的使用提高了五倍銀元素的檢測(cè)下限，兩倍鎘元素的檢測(cè)下限 7、采用了完全重新設(shè)計(jì)的射線管、無(wú)高壓電源線、無(wú) RF 噪音、更好的X射線屏蔽。 8、結(jié)構(gòu)更精密，縮短了射線管、探測(cè)器與被測(cè)樣品之間的距離，對(duì)于某些應(yīng)用信號(hào)提高了~40%. 9、新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測(cè)樣品，具有8 個(gè)濾波器，可適應(yīng)較高的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產(chǎn)生較好的分析效果。 10、超過(guò)1/3的機(jī)體采用鋁合金外殼設(shè)計(jì)，儀器頂部有專用的槽式散熱裝置，整個(gè)體系使散熱非常有效，延長(zhǎng)機(jī)器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低。 11、SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,高達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力高10倍，大SDD X射線探測(cè)器進(jìn)一步提高了Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素性能。 12、內(nèi)置的氣壓計(jì)可以糾正氣壓，氣壓計(jì)壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整，從而是檢測(cè)值更加準(zhǔn)確，儀器預(yù)設(shè)海拔高，客戶在不同的海拔高度測(cè)試，無(wú)需再次校準(zhǔn)。 13、內(nèi)置的加速器可探測(cè)運(yùn)動(dòng)和震動(dòng)，使儀器不用時(shí)待機(jī)，拿起時(shí)工作。 14、真空系統(tǒng)（選配）：真空系統(tǒng)可提高M(jìn)g;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素的檢測(cè)下限。 15、智能接駁座可對(duì)額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時(shí)充電并顯示充電進(jìn)度，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù)，可讓儀器即時(shí)標(biāo)準(zhǔn)化，儀器隨時(shí)待命狀態(tài)。 16、儀器即使在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī)，在系統(tǒng)運(yùn)作中拔掉電池，有超過(guò)30秒的時(shí)間可以插入一個(gè)新電池。 17、儀器開(kāi)機(jī)并不需要標(biāo)準(zhǔn)化，可以直接測(cè)試，標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項(xiàng)。 18、儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用，手柄軟膠設(shè)計(jì)，手感好,更適合長(zhǎng)時(shí)間使用。 19、儀器具有很好的平衡性，在測(cè)試時(shí)能立于工作臺(tái)上，不需要用手扶持，一鍵式按鈕設(shè)計(jì)，即使長(zhǎng)時(shí)間操作也無(wú)疲勞感。 20、工業(yè)級(jí)可觸摸的顯示屏與主機(jī)一體化密封設(shè)計(jì)，可承受野外惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚(yáng)的礦山環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間正常工作。 21、根據(jù)客戶需要可選擇Delta DP2000（高端型）、Delta DS2000（標(biāo)準(zhǔn)型）、Delta DC2000（經(jīng)典型），并制定相應(yīng)的軟件配合你使用，達(dá)到理想的使用效果