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・ 交流/直流共用。微電阻測(cè)試范圍0.1µΩ~2000Ω，測(cè)試速度2秒/8通道。
・ 可以與溫度循環(huán)試驗(yàn)箱一起構(gòu)成系統(tǒng)，統(tǒng)一管理。
・ 適合于BGA/CSP為代表的高密度封裝部件的焊接接合評(píng)價(jià)和多層基板的導(dǎo)通檢查，以及連接器或接插件的接觸電阻的多點(diǎn)連續(xù)測(cè)定。
・ 測(cè)試通道，醉倒256通道（32通道/基板、8基板構(gòu)成）。還有微型的MLR22mini。
主要技術(shù)規(guī)格：
測(cè)定電阻值范圍及分辨率
交流測(cè)定
直流測(cè)定
1）2.000kΩ（分辨率1Ω）
2）200.0Ω（分辨率100mΩ）
3）20.00Ω（分辨率10mΩ）
4）2.000Ω（分辨率1mΩ）
5）200.0mΩ（分辨率100µΩ）
6）20.00mΩ（分辨率10µΩ）
200.00kΩ
20.000kΩ
2.0000kΩ
200.00Ω
20.000Ω
測(cè)定頻率
2kHz
測(cè)定電壓
20mV（rms）以下
測(cè)定點(diǎn)數(shù)
32通道/基板（最多256通道）
