langer朗格爾E 1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)

E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)說明

E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)是電子研發(fā)工程師對組件進行快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等脈沖抗干擾測試的成熟工具。利用該工具，可以對模塊進行小空間范圍內(nèi)的抗干擾度分析。在對受試設備（EUT）的抗干擾分析中，能夠選擇性地給部分模塊或部分路段注入干擾電流（干擾電流路徑），以及能夠?qū)ζ浔砻娴倪x定區(qū)域施加電脈沖場（E 場）或磁脈沖場（H 場）正是快速、準確定位薄弱點的關鍵。另外，使用本系統(tǒng)還可以在施加脈沖干擾的同時，進行無反作用的光纖信號監(jiān)測。

E1 干擾發(fā)射開發(fā)系統(tǒng)的著重點是對系統(tǒng)開發(fā)過程的支持。利用 E1 系統(tǒng)，開發(fā)人員可以在工作場地排查設備/組件的干擾問題，或者通過了解干擾問題的直接原因，測量評估修改措施的效果，增強設備/組件的抗干擾度。

E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)不能用來進行標準兼容性測試，但是按照 IEC 61000-4-4 和 IEC 61000-4-2 標準對組件進行抗干擾的測試結(jié)果，是使用 E1 系統(tǒng)進行抗干擾測試的良好基礎。通用脈沖群發(fā)生器產(chǎn)生的標準干擾信號被耦合到輸入端，并通過地線回流到發(fā)生器。這些脈沖狀的干擾信號流過設備組件的路徑是未知的。在設備當中，未知的部分干擾信號流入某個未知的接受載體而產(chǎn)生功能故障。這個薄弱點的位置往往僅局限在組件上幾平方厘米的范圍內(nèi)，但是通過標準測試方法很難對其定位。開發(fā)人員還不知道，是干擾電流及其磁場以及在位置導致導線回路中產(chǎn)生感應電壓脈沖，或者電場容性耦合進入了敏感線路。

如果設備通不過標準測試，其重要的測試結(jié)果是關于功能故障類型的詳細信息。但是僅憑借這些故障信息尚無法具體定位受試設備中的薄弱點。所以，建議先對受試設備進行標準的抗干擾測試，確定可能的故障現(xiàn)象，然后開發(fā)人員根據(jù)這些故障現(xiàn)象，在產(chǎn)品開發(fā)場地利用 E1 系統(tǒng)定位

故障點及分析故障原因，給出排除干擾問題、設計修改等解決辦法，并使用 E1 開發(fā)系統(tǒng)，評估各項修改措施的有效性。

借助 E1 系統(tǒng)，開發(fā)人員可以節(jié)約產(chǎn)品開發(fā)時間、降低開發(fā)成本。

Langer BS 02

Langer BS 04DB