產(chǎn)品分類 更多>>
【廠家直銷】高低溫老化試驗箱 高低溫試驗箱報價
用途
適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；
是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的性測試設(shè)備；
特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫。
符合標(biāo)準(zhǔn)
1. GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件；
2.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件；
3.GB2423.1-89低溫試驗Aa，Ab ；
4.GB2423.3-93（IEC68-2-3）
5.MIL-STD810D方法502.2；
高低溫試驗箱技術(shù)參數(shù)
| 高低溫試驗箱 |
| SH-800 |
| 本試驗設(shè)備禁止： ①易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 ②腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 ③生物試樣的試驗或儲存 ④強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存 |
| |
4.1. 標(biāo)稱內(nèi)容積 | 800L |
4.2. 內(nèi)型尺寸 | 1000x1000x800(W*D*H) mm |
| |
5.1. 測試環(huán)境條件 5.2. 測試方法 | 環(huán)境溫度為 25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下 GB/T 5170.2-1996溫度試驗設(shè)備, GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗方法Bb GJB150.3-1986高溫試驗 GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗方法Ab GJB150.4-1986低溫試驗 GJB150.9-1986熱試驗 |
5.3. 溫度范圍 | -40℃→ 150℃（可任意設(shè)定） |
5.4. 溫度波動度 |
|
