2246EN轉(zhuǎn)DIP48測(cè)試板 暫時(shí)只能支持MLC等級(jí)的FLASH,支持4CE以下的芯片,產(chǎn)品特點(diǎn):可以測(cè)試各類封裝的FLASH BGA100 /132/152 /TSOP48/LGA等轉(zhuǎn)DIP48的測(cè)試座都可以隨意更換,每款測(cè)試座都轉(zhuǎn)成了由我公司定義的行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn)48pin,不僅可以用在固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試架上,如果有一些不能用于SSD等級(jí)的芯片也可以用我們的測(cè)試座插在U盤(pán)方案的一拖四測(cè)試架上面測(cè)試,為客戶減少測(cè)試架成本。我們的測(cè)試座限位框都是只需要取兩個(gè)螺絲就可以輕松更換。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品用途:對(duì)BGA152/132的IC芯片進(jìn)行測(cè)試
適用封裝:BGA152、BGA132 引腳間距1.0mm
測(cè)試座:BGA152/132-1.0
特點(diǎn):可更換測(cè)試座,節(jié)約成本
規(guī)格尺寸
型號(hào):BGA152/132-1.0
引腳間距(mm):1.0
腳位:88
芯片尺寸:12*18/14*18 可更換限位框。