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加工定制
否
品牌
Hitachi/日立
型號
U-4100
光源
90
波長范圍
180-3300（nm）
焦距
90（mm）
外形尺寸
900*850*1100（mm）
重量
100（g）
適用范圍
適合半導體、光學元件、新型材料的光譜性能研究，是功能強勁的分光光度系統(tǒng)。 高性能的固體，液體，渾
規(guī)格
430*430
跨境貨源
否
可測較大樣品尺寸
200*200
入射角
20-60度
紫外區(qū)較低可測
175nm
出售一臺 日本85成新 U-4100日立雙光束紫外/可見/近紅外光譜儀
用于半導體、光學元件、新型材料的光譜性能研究，是功能強勁的分光光度系統(tǒng)。
高性能的固體，液體，渾濁樣品測試系統(tǒng)。
透射，鏡面反射和漫反射都可測試。
使用超大樣品艙，樣品較大可至430 x 430mm，大型樣品測試也無需破壞。
紫外區(qū)較低可測至175nm。
有四種系統(tǒng)可選：
1)U4100固體樣品測量系統(tǒng)(240-2600nm)
2)U4100大樣品測量系統(tǒng)(240-2600nm)
3)U4100紫外區(qū)高靈敏度測量系統(tǒng)(175-2600nm)
4)U4100液體樣品測量系統(tǒng)(185-3300nm)
分光系統(tǒng)：棱鏡-光柵
樣品尺寸：較大200 x 200mm
測定波長范圍：240-2600nm
檢測器：標準積分球
入射角：20
