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TR-518FE
TR-518FE是德律科技繼成功推出TR518F之后，運(yùn)用更先進(jìn)之零組件及軟體技術(shù)所開(kāi)發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開(kāi)短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無(wú)疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇，無(wú)論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。
1：視窗版作業(yè)環(huán)境、人性化界面設(shè)計(jì)、操作簡(jiǎn)易；
2：電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開(kāi)/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式；
3：電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，自動(dòng)判斷信號(hào)源及信號(hào)流入方向；
4：可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式；
5：完整測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料及報(bào)表產(chǎn)生，且自動(dòng)儲(chǔ)存，不因斷電而遺失數(shù)據(jù)系統(tǒng)具自我診斷功能及遠(yuǎn)端遙控功能Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修；
6：高科技半導(dǎo)體CMOS Switching設(shè)計(jì)，無(wú)壽命限制，待測(cè)物安全性較高；
7：操作界面可以壓床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，較高可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)；
8：可加裝調(diào)整裝置具動(dòng)態(tài)調(diào)整裝調(diào)整功能多重安全性設(shè)計(jì)，確實(shí)保障操作人員；
9：引進(jìn)TestJet Technology技術(shù)，檢測(cè)SMT元件開(kāi)路空焊問(wèn)題，效果應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開(kāi)路空焊問(wèn)題；
10：輔助學(xué)習(xí)模組可檢測(cè)IC反向問(wèn)題， 漏電流量測(cè)方式可輔助檢測(cè)電容容性達(dá)50-60%選項(xiàng)功能強(qiáng)大，可針對(duì)同之測(cè)試需求，加裝如頻率量測(cè)、電壓量測(cè)、電流量測(cè)具備1MHZ信號(hào)源，可量測(cè)小電容小電感；
11：具三點(diǎn)量測(cè)模式，可量測(cè)電晶體FET、SCR等元件，并可對(duì)Photo-Coupler提供四點(diǎn)量測(cè)，確實(shí)檢測(cè)上述元件之反插問(wèn)題；
12：具Pin Contact檢查功能；
在線測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)表
項(xiàng) 目 | 詳 細(xì) 參 數(shù) | |
測(cè)試點(diǎn)數(shù) | 標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開(kāi)關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn) | |
大型主機(jī)(8u):可以每片關(guān)開(kāi)板256點(diǎn)擴(kuò)充至3584點(diǎn) | ||
測(cè)試步驟 | 較大步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充 | |
測(cè)試時(shí)間 | 開(kāi)路/短路測(cè)試:每1000點(diǎn)約1Sec(Typical DUT) | |
元件測(cè)試:每一元件約0.6mSec至30mSec(Typical DUT) | ||
測(cè)試范圍 | 電阻:0.1Ω至40MΩ 電晶體/二極體: 0.1V至9.99V | |
電容:1.0PF至100mF Zener Diode: 標(biāo)準(zhǔn),0.1V至9.99V,選配HV,0.1V至48V | ||
電感:1.0UH至60H | ||
隔離點(diǎn)電路 | 隔離點(diǎn)自動(dòng)選擇,每測(cè)試步驟5點(diǎn) | |
測(cè)試值上下限設(shè)定范圍 | 上限: 1%至999% 下限:-1%至-99% | |
可測(cè)電路板尺寸 | 標(biāo)準(zhǔn)配備: 420mm(寬)
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