MTI SEMtester系列拉伸試驗(yàn)臺(tái) 型號(hào) SEMtester100 SEMtester1000 SEMtester1000EBSD SEMtester2000 SEMtester2000 EBSD 載荷傳感器精度 滿量程的±0.2% 線性測(cè)量精度 分辨率±20nm 電源要求 100-240Vac,50-60Hz 試樣加熱器 在真空中從環(huán)境溫度到1200°C(±5.0°C可控) 控制器使用環(huán)境要求 10°C到43°C沒有冷凝 存儲(chǔ)環(huán)境要求 -18°C到65°C沒有冷凝 數(shù)據(jù)采集頻率 可調(diào)，可達(dá)1kHzmax 電腦的配置要求 WindowsXP,Vistaor7,2Gb內(nèi)存或者更好的配置 輸出格式 .csv,.pdf,.jpg,.bmp 1僅指壓縮 2僅指拉伸 340x10mm 不包含加熱器 典型的參數(shù)。主體根據(jù)應(yīng)用需求變化 應(yīng)用 SEMtester系列產(chǎn)品可以實(shí)現(xiàn)對(duì)各種材料進(jìn)行拉伸，壓縮，彎曲，蠕變和疲勞試驗(yàn)。可以在動(dòng)態(tài)或靜態(tài)載荷下觀察變形和松弛行為?？蛇x配樣品加熱器，用于測(cè)試過程中模擬實(shí)際的工作溫度條件?？蛇x多種試樣夾具，幾乎可以固定夾緊任何樣品配置。這種多樣性使SEMtester產(chǎn)品適用于非常廣泛的測(cè)試材料，包括以下測(cè)試材料： 復(fù)合材料金屬塑料聚合物纖維紡織品頭發(fā)食物礦物混泥土生物材料陶瓷木頭玻璃紙張輪胎橡膠 先進(jìn)的機(jī)械測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于光學(xué)顯微鏡，掃描探針顯微鏡，掃描電子顯微鏡，X射線儀以及其它顯微鏡 使用MTII/ Fullam's SEMtester系列拉伸壓縮試驗(yàn)臺(tái)，可以快速、準(zhǔn)確、的獲得材料力學(xué)性能信息。設(shè)計(jì)專門應(yīng)用于掃描電子顯微鏡（SEMs），掃描探針顯微鏡（SPMs）和光學(xué)顯微鏡（LMs），SEMtester微型試驗(yàn)臺(tái)是在放大的條件下進(jìn)行測(cè)試的非常理想的工具。它是一種能更深入的了解材料破壞的早期階段和更好的整體了解材料的性能的工具。此外，可以實(shí)時(shí)觀察晶粒的位錯(cuò)和裂紋的擴(kuò)展，揭示的關(guān)于材料變形的信息，比傳統(tǒng)的、后失效分析技術(shù)更多。 直觀的操作方式 為了操作實(shí)驗(yàn)和收集數(shù)據(jù)，MTII /Fullam使用一個(gè)符合ASTM規(guī)范，以Windows系統(tǒng)為基礎(chǔ)的，控制材料測(cè)試的軟件系統(tǒng)。這個(gè)功能強(qiáng)大的軟件，提供了一個(gè)用戶友好的界面，用于設(shè)定系統(tǒng)參數(shù)，測(cè)試和分析數(shù)據(jù)。試樣尺寸隨應(yīng)變速率和閾值定義（負(fù)載，伸長(zhǎng)，時(shí)間），然后用它來(lái)自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試和運(yùn)算。 該軟件可將這些設(shè)定的參數(shù)存儲(chǔ)為文件，可以在以后的測(cè)試中再次打開。測(cè)試過程中實(shí)時(shí)提供測(cè)試結(jié)果，生成應(yīng)力-應(yīng)變曲線、關(guān)鍵參數(shù)如峰值負(fù)載/應(yīng)力、塑性點(diǎn)、生成彈性模量和其他測(cè)試報(bào)告。原始的測(cè)試數(shù)據(jù)和結(jié)果可以用標(biāo)準(zhǔn)格式導(dǎo)出，因此很容易與其它數(shù)據(jù)分析軟件和實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)進(jìn)行集成。測(cè)試結(jié)果易于輸出數(shù)據(jù)以及定制分析報(bào)告 靈活的設(shè)計(jì) MTII /Fullman提供完全自動(dòng)化的平臺(tái)，性價(jià)比非常高。有標(biāo)配的100磅力（450 N），1000磅（4500 N）和2000磅（9000 N）載荷傳感器，為了達(dá)到客戶提高準(zhǔn)確度和靈敏度的要求，還可配置量程可選的載荷傳感器。擴(kuò)大的應(yīng)變行程的版本使得更長(zhǎng)，更有韌性樣品可以進(jìn)行測(cè)試。水平和傾斜的試樣夾具提供了更加靈活的操作，可以應(yīng)用于傳統(tǒng)的顯微鏡和那些帶有EBSD的系統(tǒng)。 它還有快速連接插頭，設(shè)計(jì)用于無(wú)縫結(jié)合到大部分的顯微鏡中。定制的端口蓋子使得用戶不需要修改掃描電鏡的真空室或顯微鏡的平臺(tái)就可以安裝該系統(tǒng)。 選項(xiàng)和配件 因?yàn)椴皇撬械膽?yīng)用都是一樣的，所以用于研究和開發(fā)環(huán)境的工具必須因不同的測(cè)試靈活的配置。無(wú)論它是一個(gè)基本的手動(dòng)測(cè)試還是全自動(dòng)伺服控制測(cè)試與數(shù)據(jù)采集軟件，我們都有一個(gè)滿足您需要的解決方案。MTII /Fullam提供了一系列的標(biāo)準(zhǔn)配置和定制配置，包括以下配件： 可以更換的載荷傳感器試樣加熱器壓縮夾具3點(diǎn)彎曲和4點(diǎn)彎曲夾具真空端口蓋子讀出載荷和應(yīng)變的系統(tǒng) 圓柱狀、螺栓和螺柱形狀的試樣夾具快速連接安裝接頭