Nanotrac Wave 納米粒度儀具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復(fù)及測試準(zhǔn)確等特點(diǎn),適用于各種納米級、亞微米級固體顆粒與乳液等領(lǐng)域中。今天小編主要來介紹一下Nanotrac Wave 納米粒度儀基本應(yīng)用知識,希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。
Nanotrac Wave 納米粒度儀產(chǎn)品簡介:
隨著顆粒粒徑的減小,例如分子級別的大小,顆粒對光的散射效率急劇降低,使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測(PCS)變得更加不確定。40多年 來,Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒,早在1990年,超細(xì)顆粒分析儀器 UPA(UltrafineParticle Analyzer)研發(fā)成功,首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年,利 用背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù),結(jié)合動態(tài)光散射理論和先進(jìn)的數(shù)學(xué)處理模型,將分析范圍延伸至 0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十,基本實(shí)現(xiàn)樣品的原 位檢測。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率,直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的頻率漂移,綜合考慮被測體系的實(shí)時(shí)溫度和粘度,較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù),信號強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級。另外,新型“Y”型梯度光纖探針的使用,實(shí)現(xiàn)了對樣品的直接測量,極大的減少了背景噪音,提高了儀器的分辨率。
Nanotrac Wave 納米粒度儀技術(shù)特點(diǎn):
采用新的動態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法;
專利的異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級,提高分析結(jié)果的性;
專利的可控參比方法(CRM),能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度;
超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性;
專利的快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時(shí)間;
消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度;
Nanotrac Wave 納米粒度儀技術(shù)參數(shù):
粒度分析范圍: 0.8nm-6.5μm
重現(xiàn)性:誤差≤1%
濃度范圍:ppb-40%
檢測角度:180°
分析時(shí)間:30-120秒
準(zhǔn)確性:全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測量精度: 無需預(yù)選,依據(jù)實(shí)際測量結(jié)果,自動生成單峰/多峰分布結(jié)果
理論設(shè)計(jì)溫度:0-90℃,可以進(jìn)行程序升溫或降溫
兼容性:兼容任何有機(jī)溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液
Nanotrac Wave 納米粒度儀測量原理:
粒度測量:動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
分子量測量:水力直徑或德拜曲線
專利技術(shù):膜電極,微電場電勢測量,“Y”型光纖探針設(shè)計(jì),異相多普勒頻移,可控參比方法,快速傅立葉轉(zhuǎn)換算法,非球形顆粒校正因子。
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