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涂層測厚儀QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量磁性基體上的涂鍍層；涂層測厚儀QNix4200測量范圍廣，精度高，目前已成為的涂層測厚儀之一。
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QNix4200涂層測厚儀-技術(shù)參數(shù)：
磁性基體(Fe模式):有
測量范圍:QN4200：Fe:0-3000um
顯示精度:0.1um
精度0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
1000-3000um≤±3%讀數(shù)
小接觸面:0×10mm
小曲率半徑:凸面：3mm；凹面：25mm
小基體厚度:Fe:0.2mm
溫度補償范圍:0-60℃
顯示:LCD液晶(帶背光)
探頭：紅寶石固定式
電源：2×1.5V干電池
尺寸：100×60×27mm
重量：110g
QNix4200涂層測厚儀所具備的優(yōu)勢：只需調(diào)零，無需校準，體積小巧，操作方便；一機雙用，自動識別基體，高精度。
