產(chǎn)品分類 更多>>
iEDX-150T 采用非真空樣品腔；
用于金屬電鍍鍍層分析；
可同時(shí)分析鍍層中的合金成分比列。
技術(shù)指標(biāo)：
多鍍層，1～6層
測(cè)試精度：0.01 um
多次測(cè)量重復(fù)性誤差<0.1％
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)
測(cè)量時(shí)間：10-60秒
Si-PIN探測(cè)器，能量分辨率為149電子伏特
微焦X射線管50KV/1mA，鎢靶，
焦斑尺寸 75um, 壽命大于3萬(wàn)小時(shí)
7個(gè)準(zhǔn)直器及6個(gè)濾光片自動(dòng)切換
XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)，較大荷載為5公斤
高清CCD攝像頭，監(jiān)控位置
多變量非線性去卷積曲線擬合
高性能FP/MLSQ分析
平臺(tái)移動(dòng)范圍 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
圖譜界面：
軟件支持無(wú)標(biāo)樣分析
超大分析平臺(tái)和樣品腔
集成了鍍層界面和合金成分分析界面
采用先進(jìn)的多種光譜擬合分析處理技術(shù)
分析精度可達(dá)到0.01um
公司網(wǎng)址：www.sense.cc
