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晶片電阻低溫操作試驗(yàn)
低溫操作試驗(yàn)依照以下步驟進(jìn)行：
A.將受測電阻置入恒溫25℃之測試箱內(nèi)。
B.經(jīng)過15小時(shí)后，將溫度降低到-65℃，并維持1小時(shí)。
D.然后關(guān)掉電源15分鐘。
C.然后再同一溫度下(-65℃)，按該受測電阻之額定負(fù)荷加壓45分鐘。
E.再將溫度調(diào)回25℃，按其試驗(yàn)前后的差值求得變化率。
溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)
1 2 3 4 5 6 7 8
溫度 65 65 25 65 65 65 -10 25
時(shí)間 2 3.5 2.5 2 3.5 4.5 3 3
負(fù)載率 On Off Off Off Off Off Off Off
濕度 90 95 95 95 95 95 95 95
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