Chemplex樣品薄膜 型號：090，250 品牌：Chemplex 產(chǎn)地：美國 一、產(chǎn)品介紹： 在用X熒光光譜儀進行ROHS檢測，WEEE檢測和一般材料成分分析時，由于樣品的不規(guī)則（特別是液體、粉末等），需要借助樣品杯和薄膜輔助檢測；但不合適的樣品薄膜往往造成樣品污染并影響材料成分分析的X射線信號和檢測結(jié)果。 選擇適當(dāng)?shù)谋∧げ牧蠈τ诜治鼋Y(jié)果至關(guān)重要。 在現(xiàn)有的眾多不同的物質(zhì)類型中，只有為數(shù)不多的幾種具備能滿足光譜化學(xué)需要的一致性和化學(xué)、物理屬性。 選擇薄膜樣本支撐窗材料？ 適當(dāng)?shù)谋∧颖局未暗倪x擇主要以滿足首要重要的實驗室要求為基礎(chǔ)： 使用方便快捷； 避免造成待測樣品污染； 優(yōu)越的分析物透射比與強度； 對待測樣品的耐化學(xué)性。 Chemplex Industries有限公司從事樣品前處理設(shè)備、耗材研發(fā)和生產(chǎn)的公司，是X射線光譜儀（XRF）配件耗材領(lǐng)域的廠商。 Chemplex XRF樣品杯和樣品薄膜用于RoHS、WEEE測試儀器盛放小顆粒固體，粉末，液體，適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。Chemplex樣品薄膜薄膜張力特性佳，與樣品杯組合使用，適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。對特別配制的塑料和保持其物理和化學(xué)屬性一致性的特別關(guān)注，使得Chemplex XRF樣本杯、樣品薄膜在XRF物質(zhì)成分分析應(yīng)用范圍和性能上無與倫比。Chemplex的許多XRF樣本杯、樣品薄膜被列為新穎獨特的設(shè)計和應(yīng)用，并被美國專利商標(biāo)局授予知識產(chǎn)權(quán)地位。 林奧儀器作為美國Chemplex公司的中國代理商，提供Chemplex所有系列用于對應(yīng)歐盟ROHS和WEEE環(huán)保檢測儀器——X射線熒光光譜儀（XRF）的檢測實驗消耗產(chǎn)品！ 我們不僅能夠為您提供樣品薄膜、樣品杯, 還可根據(jù)您的樣品應(yīng)用為您選擇、定制合適的樣品薄膜、樣品杯。 二、適用儀器： 德國斯派克Spectro、英國牛津Oxford、日本堀場Horiba、飛利浦/帕納科Philips/Panalytical、德國布魯克 Bruker、美國賽默飛世爾科技（熱電）Thermo，瑞士ARL及日本理學(xué)Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生產(chǎn)的X熒光光譜儀(XRF)。 （適用X 射線熒光光譜儀品牌型號：所有X射線熒光光譜儀包括：尼通(NITON)：Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ；伊諾斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕納科(Panalytical)：Minipal4、 Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；熱電(Thermo)：ARL Quant’X；日本電子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。） 三、SPECTROMEMBRANE?樣品薄膜 隨著SpectroMembrane?樣本支撐托架的面世，在處理薄膜時用戶不再需要擔(dān)心靜電附著或潛在的污染風(fēng)險或吸引空中顆粒等問題。除樣本杯外，薄膜不再近距離接觸其它任何物體。薄膜處理將通過使用集成的托框完成，托框能夠在組裝過程中自動分離，留下繃緊的薄膜樣本平面。 SpectroMembrane?薄膜樣本支撐托架由一塊粘在托架上作為支撐物的薄膜樣本支撐物質(zhì)組成。在把薄膜物質(zhì)粘在XRF樣本杯上時，薄膜物質(zhì)并不會被直接處理，這就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附著時，薄膜將自動從托架上分離，留下繃緊的無皺樣本支撐窗。