一：鍍膜機(jī)膜厚在線監(jiān)控儀的參數(shù) 1.測試波長：根據(jù)客戶需要選擇，目前有如下的選擇： ? 紅外線：850 nm（默認(rèn)選項，抗干擾能力強(qiáng)） ? 可見光：白光 380nm-760nm ? 綠光： 530nm 2.透過率測量精度：優(yōu)于±1% 3.透過率分辨率：0.005%； 4.光密度測量范圍：0.00 OD?。?.00 OD 5.光密度的分辨率： 0.01 for 0.00 - 3.00 OD 0.05 for 3.00 - 5.00 OD 6.較大測量點(diǎn)數(shù)：32點(diǎn) 7.相鄰探測頭之間距離：小70mm 8.發(fā)送接收探頭之間距離：20mm 9.溫度范圍： -20°C --- 70°C 10.數(shù)據(jù)刷新周期：300ms 11.儀器整體尺寸： 100mm（寬）*230mm（高）* 長度(根據(jù)客戶要求定制) 12.需真空法蘭電極芯數(shù)：6根（不配電腦監(jiān)控），9根（配電腦監(jiān)控） 13.電源：220V AC/50Hz 14.通訊：雙路RS485 二：儀器特點(diǎn) 1. 一體化設(shè)計，結(jié)構(gòu)簡單，現(xiàn)場安裝維護(hù)方便 2. 防塵設(shè)計 對于鍍膜過程中的粉塵（如鍍鋁過程）會影響測量光學(xué)系統(tǒng)，該系統(tǒng)采用防塵設(shè)計，粉塵不會影響光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部。如有粉塵，只需要定期擦拭清潔光學(xué)系統(tǒng)的鏡頭玻璃即可，方便維護(hù)。 3. 真空室的電子設(shè)計 真空環(huán)境中，和大氣環(huán)境下有眾多的區(qū)別，經(jīng)過多次真空試驗和現(xiàn)場應(yīng)用，成功解決真空中電子器件的穩(wěn)定性問題。 三：光密度在線監(jiān)控設(shè)備的組成 1：設(shè)備分為三部分：探測系統(tǒng)、人機(jī)交互設(shè)備、電腦實(shí)時監(jiān)控系統(tǒng)。 ? 探測系統(tǒng) 主要包括光源，接收器和支架（測試點(diǎn)的，根據(jù)用戶要求定制，測試點(diǎn)數(shù)一般是3的整數(shù)倍，如3、6、9、12、15等）。 ? 人機(jī)交互設(shè)備 7寸LCD人機(jī)交互界面，顯示各個測試點(diǎn)的透過率和光密度數(shù)據(jù)。 ? 電腦實(shí)時監(jiān)控系統(tǒng)（選配） 所有測試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實(shí)時監(jiān)控。包含實(shí)時顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、實(shí)時曲線，越限報警等。透光率與光密度的顯示可自由切換。 歷史數(shù)據(jù)存儲，分析和報表功能。整卷膜在其對應(yīng)長度上，都有數(shù)據(jù)記錄和分析。如果已知鍍膜機(jī)的運(yùn)行速度，可以出報表分析整卷膜在對應(yīng)長度的光學(xué)指標(biāo)，做到整卷膜鍍層厚度和均勻性可追溯。