組件缺陷檢測EL測試儀 產(chǎn)品特點 關(guān)鍵部件：采用原裝紅外相機，了設(shè)備的整體品質(zhì)。 全封閉式光路設(shè)計：封閉式光路設(shè)計可設(shè)備長期穩(wěn)定運，更好的適應(yīng)不同的使用環(huán)境 強大專用測試軟件：全中文顯示界面，可自動手動掃描圖形碼編號并按編碼進行文件保存?？煞糯髵呙鑸D像顯示細節(jié)，方便判斷。 組件缺陷檢測EL測試儀應(yīng)用范圍 該設(shè)備用于檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。 設(shè)備主要參數(shù) 型號規(guī)格 EL140S-M 有效測試面積 1200mm X 2100mm 分辨率 140萬像素,600萬像素,1200萬像素或1600萬像素 靈敏度 可檢測出裂紋寬度小于0.2μm 測試時間 1s—60s自由設(shè)定 測試方式 無接觸式 電源參數(shù) 單相220V 10A 較大加載電壓80V，較大加載電流 10A 配置 測試機臺（含紅外成像儀）、電腦、軟件 組件缺陷檢測EL測試儀原理 電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長度： 對太陽能電池加載電壓后，使之發(fā)光，再利用紅外成像儀攝取其發(fā)光影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長度，缺陷處因具有較低的少子擴散長度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。 有效定位缺陷類型： 通過對產(chǎn)品缺陷圖像的觀察，可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片、擴散、刻蝕、印刷、燒結(jié)等工藝過程存在的問題 公司：http://www.sunic.com.cn 聯(lián)系人：陶女士 電話：027-59722666-8013 手機：15671696583 Q:1563376021