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安藤AQ6317C的是一種先進(jìn)的廣泛應(yīng)用，
AQ6317C是先進(jìn)的光譜分析儀，它應(yīng)用廣泛，適用于光學(xué)儀器中的光源測試、波長損耗特性的測量以及WDM系統(tǒng)的波形分析。
特別對于C波段和L波段，該裝置有很高的波長精度和波長線性特性，并且能對用于WDM的光學(xué)儀器進(jìn)行測評。裝置所提供的分析功能使操作和擴(kuò)充變得簡單。與以前的型號相比，AQ6317C的波長精度已提高到±20pm，并且該指標(biāo)值也是L波段的公稱值。WDM的分析功能和凹口寬度的分析功能已得到進(jìn)一步改善，并新增加了多通道NF分析功能和光濾波器的分析功能。加上在其它方面的改進(jìn)例如掃描的加速，該裝置非常容易操作和使用。
AQ6317C包含了Ando關(guān)于光譜分析儀的新技術(shù)-是下一代測試的參
