(一)射線照相法
射線照相法是根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度的不同,使得射線透過(guò)工件后的強(qiáng)度不同,使缺陷能在射線底片上顯示出來(lái)的方法。如圖1所示,從X射線機(jī)發(fā)射出來(lái)的X射線透過(guò)工件時(shí),由于缺陷內(nèi)部介質(zhì)對(duì)射線的吸收能力和周圍完好部位不一樣,因而透過(guò)缺陷部位的射線強(qiáng)度不同于周圍完好部位。把膠片放在工件適當(dāng)位置,在感光膠片上,有缺陷部位和無(wú)缺陷部位將接受不同的射線曝光。再經(jīng)過(guò)暗室處理后,得到底片。然后把底片放在觀片燈上就可以明顯觀察到缺陷處和無(wú)缺陷處具有不同的黑度。評(píng)片人員據(jù)此就可以判斷缺陷的情況。
圖1 射線照相法原理
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