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Genius便攜式X射線鍍銀層測厚儀
Genius XRF系列是專門針對在現(xiàn)場，野外進(jìn)行X熒光分析的應(yīng)用而設(shè)計，具有體積小，重量輕，普通人可手持測量的特點；產(chǎn)品超小、超輕、超美、超安全、超方便、超長待機時間、超防水、超準(zhǔn)、超快等特點，并在小型X射線儀上引入了數(shù)字多道技術(shù)，使儀器檢出限更好，穩(wěn)定性更高，適用面更廣。
產(chǎn)品包括有害元素分析儀Genius 3000XRF，合金分析儀Genius 5000XRF，礦石分析儀Genius 7000XRF，土壤重金屬分析儀Genius 9000XRF以及便攜式鍍層測厚儀Genius等一系列型號，可充分滿足從原料檢測，生產(chǎn)過程控制到成品檢驗中各種元素成分的現(xiàn)場在線分析，金屬材料的性鑒別和合號快速識別，鍍層厚度檢測，土壤重金屬現(xiàn)場檢測，各類地質(zhì)礦樣的野外原位多元素分析等市場需求。
分析方法：能量色散X射線熒光分析方法
測量鍍層范圍：0-50um
檢測鍍層種類：銅、鎳、鋅、鉻、金、銀等金屬鍍層
分析精度：單層電鍍相對誤差不超過10%
檢測時間：15-20秒
檢測窗口：12mm
GPS、WIFI：內(nèi)置系統(tǒng)
檢測對象：金屬電鍍
探測器：25mm2 0.3mil，SDD探測器
探測器分辨率：較低可達(dá)139eV
激發(fā)源：50KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
視頻系統(tǒng)：高清晰攝像頭
顯示屏：半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480
安全性：自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存
數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術(shù)，SPI數(shù)據(jù)傳輸，快速分析，高計數(shù)率；
處理器和內(nèi)存：CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴展存儲較大支持32G，標(biāo)配2G，可以海量存儲數(shù)據(jù)
防水迷你USB，并且可以外接臺式電腦。
電池使用時間：可充電鋰電池，電池較大電量7800mAH,可持續(xù)工作8小時；配有寬電壓110V-220V通用適配器，可交流供電使用。
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：-20℃～ 50℃
儀器外形尺寸：234
