產(chǎn)品分類 更多>>
X熒光光譜儀介紹
超高分辨率：
采用SDD硅漂移探測器 ，分辨率為139±5ev ，而常規(guī)的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
超高精確度，性能最優(yōu)：
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計數(shù)率最大可達(dá)8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭，精確定位：
采用新型工業(yè)級相機(jī)，樣品圖像更加清晰，輕松實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位。
小準(zhǔn)直器，輕松實(shí)現(xiàn)精小部位測試：
提供多種準(zhǔn)直器，直徑最小達(dá)0.2mm，可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的精確測試，同時可根據(jù)測試需求電動切換準(zhǔn)直器，使測量更加輕松更加準(zhǔn)確。
一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：
FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。
X熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)ppm級
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：139±5eV
X熒光光譜儀 配置
移動樣品平臺
SDD探測器
數(shù)字多道分析系統(tǒng)
高低壓電源
大功率X光管
計算機(jī)及噴墨打印機(jī)
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
質(zhì)量：45Kg
