X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息。通過的x射線熒光信號(hào)的分析，可以測(cè)表面電鍍的金屬層的光譜強(qiáng)度，從而得出鍍層的厚度。X熒光鍍層測(cè)厚儀采用開放式設(shè)備，精密二維移動(dòng)樣品臺(tái)，激光自動(dòng)進(jìn)行定位，對(duì)小樣品測(cè)試效果好，鉛玻璃保護(hù)屏蔽罩可以防止輻射泄漏。 

X熒光鍍層測(cè)厚儀儀系列在電鍍檢測(cè)行業(yè)中， 針對(duì)上述五項(xiàng)需求的應(yīng)用：

(1)、對(duì)鍍層膜厚檢測(cè)、電鍍液分析可精準(zhǔn)分析；
(2)、對(duì)RoHS有害元素檢測(cè)、重金屬檢測(cè)、槽液雜質(zhì)檢測(cè)、水質(zhì)在線監(jiān)測(cè)可進(jìn)行快速檢測(cè)，檢測(cè)環(huán)境里的重金屬是否超標(biāo)。
同時(shí)具有以下特點(diǎn)
快速：1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無損：測(cè)試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示元素含量。
測(cè)試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。
可靠性高：由于測(cè)試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。
滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種先進(jìn)的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
性價(jià)比高：相比化學(xué)分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡(jiǎn)易：對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。

1、儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測(cè)試時(shí)，可開蓋，對(duì)樣品長(zhǎng)度無限制

檢測(cè)開槽口時(shí)，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺(tái)尺寸：230(W)×210(D)mm

移動(dòng)范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺(tái)升降范圍：0-140mm

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1mA

靶材：W靶

窗口：鈹窗

制冷方式：風(fēng)冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發(fā)生器：

輸入電壓：24V

輸入電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2mA

燈絲電壓：5V

燈絲電流：3.5A

6、MCA多道分析器

±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數(shù)：12位

分析道數(shù)：2048道

7、準(zhǔn)直器系統(tǒng)：

準(zhǔn)直器：Ø0.1 mm

濾光片：Mo

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：USB2.0

傳感器廠商：索尼

快門類型：面陣

光學(xué)尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）