名片曝光使用說(shuō)明

步驟1:創(chuàng)建名片

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步驟2:投放名片

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產(chǎn)品推薦
smt首件測(cè)試儀
80000元/件
smt首件測(cè)試儀

     

    HUSTEC華科智源

 

HUSTEC-1200A-MT

IGBT靜態(tài)參數(shù)綜合特性測(cè)試儀

           資料介紹及說(shuō)明    

一:主要特點(diǎn)

華科智源HUSTEC-1200A-MT電參數(shù)測(cè)試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測(cè)試,還可以測(cè)量大功率二極管 IGBT模塊,大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管,MOS管等器件的 V-I 特性測(cè)試,測(cè)試1200A(可擴(kuò)展至1600A),5000V以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于軌道交通,電動(dòng)汽車 ,風(fēng)力發(fā)電,變頻器,焊機(jī)行業(yè)的IGBT來(lái)料選型和失效分析,設(shè)備還可以用于變頻器,風(fēng)電,軌道交通,電焊機(jī)等行業(yè)的在線檢修,無(wú)需從電路板上取下來(lái)進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試,可實(shí)現(xiàn)完美的在線IGBT檢測(cè),測(cè)試方便,測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)單,既可以在測(cè)試主機(jī)里設(shè)置參數(shù)直接測(cè)試,又可以通過(guò)軟件控制主機(jī)編程后進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試,通過(guò)電腦操作完成 IGBT 的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試;

測(cè)試參數(shù):

ICES  集電極-發(fā)射極漏電流

IGESF 正向柵極漏電流 

IGESR 反向柵極漏電流

BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓

VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓

VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓

ICON 通態(tài)電極電流

VGEON 通態(tài)柵極電壓

VF 二極管正向?qū)▔航?/span>

整個(gè)測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成,電腦軟件攜帶數(shù)據(jù)庫(kù)管理查詢功能,可生成測(cè)試曲線,方便操作使用。

 

二:華科智源HUSTEC-1200A-MT大功率IGBT測(cè)試儀應(yīng)用范圍

AIGBT單管及模塊,

B大功率場(chǎng)效應(yīng)管(Mosfet

C:大功率二極管

D:標(biāo)準(zhǔn)低阻值電阻

E:軌道交通,風(fēng)力發(fā)電,新能源汽車,變頻器,焊機(jī)等行業(yè)篩選以及在線故障檢測(cè)

三、華科智源IGBT測(cè)試儀系統(tǒng)特征:

A:測(cè)量多種IGBTMOS

B:脈沖電流1200A,電壓5KV,測(cè)試范圍廣;

C:脈沖寬度 50uS~300uS

DVce測(cè)量精度2mV

EVce測(cè)量范圍>10V  

F:電腦圖形顯示界面

G:智能保護(hù)被測(cè)量器件

H:上位機(jī)攜帶數(shù)據(jù)庫(kù)功能

IMOS IGBT內(nèi)部二極管壓降

J : 一次測(cè)試IGBT全部靜態(tài)參數(shù)

H: 生成測(cè)試曲線(IV曲線直觀看到IGBT特性,可以做失效分析以及故障定位)

 

華科智源IGBT測(cè)試儀針對(duì) IGBT 的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測(cè)試系統(tǒng);自動(dòng)化程度高(按照操作人員設(shè)定的程序自動(dòng)工作),計(jì)算機(jī)可以記錄測(cè)試結(jié)果,測(cè)試結(jié)果可轉(zhuǎn)化為文本格式存儲(chǔ),測(cè)試方法靈活(可完美測(cè)試器件以及單個(gè)單元和多單元的模塊測(cè)試),安全穩(wěn)定(對(duì)設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖),具有安全保護(hù)功能,測(cè)試速度方便快捷。

 

四:測(cè)試原理圖

3.1  IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試部分

   在線式IGBT測(cè)試儀接線示意圖

1)閾值電壓測(cè)試電路

1 閾值電壓測(cè)試電路(僅示出IEC標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路)

2)集射極截止電壓/集射極截止電流測(cè)試電路

2 集射極截止電壓/發(fā)射極截止電流測(cè)試電路

3IGBT飽和壓降/FRD正向?qū)▔航禍y(cè)試電路

3 通態(tài)壓降測(cè)試電路

4)柵極漏電流測(cè)試電路

4 柵極漏電流測(cè)試電路

特征曲線舉例:

VCE-IC曲線.png


Vce-IC特征曲線

 

Vgth-Vce曲線.png

Vgth-Vce特征曲線

                   測(cè)試界面.png

  

軟件測(cè)試界面

五:前后面板介紹

 

線形標(biāo)注 3: 9測(cè)試電壓修正線形標(biāo)注 3: 8測(cè)試電流修正 線形標(biāo)注 3: 7設(shè)定電流顯示
線形標(biāo)注 3: 12電壓檢測(cè)輸入bnc線形標(biāo)注 3: 25正向電流設(shè)定調(diào)節(jié)線形標(biāo)注 3: 19耐壓正極輸入 線形標(biāo)注 3: 17柵極電壓顯示線形標(biāo)注 3: 18柵極漏流顯示線形標(biāo)注 3: 21耐壓負(fù)極輸入
線形標(biāo)注 3: 3耐壓測(cè)試電壓顯示線形標(biāo)注 3: 23柵極漏電流修正線形標(biāo)注 3: 15耐壓測(cè)試輸出正 線形標(biāo)注 3: 16耐壓測(cè)試輸出負(fù)線形標(biāo)注 3: 4耐壓測(cè)試電壓修正線形標(biāo)注 3: 5程控測(cè)試開關(guān)線形標(biāo)注 3: 20VCE輸出線形標(biāo)注 3: 11柵極電壓輸出線形標(biāo)注 3: 10電源開關(guān) 

2 HUSTEC-1200A-MT型正面板圖

線形標(biāo)注 3: 3光纖輸出接口 線形標(biāo)注 3: 4電壓顯示微調(diào) 線形標(biāo)注 3: 5電流設(shè)定微調(diào) 線形標(biāo)注 3: 6柵極電壓設(shè)定 線形標(biāo)注 3: 7電壓采集微調(diào) 線形標(biāo)注 3: 14 市電輸入220VAC線形標(biāo)注 3: 10光纖模塊數(shù)據(jù)線 線形標(biāo)注 3: 11腳踏開關(guān)(備用) 線形標(biāo)注 3: 12主機(jī)總開關(guān)線形標(biāo)注 3: 13 5A保險(xiǎn)絲線形標(biāo)注 3: 2光纖數(shù)據(jù)口線形標(biāo)注 3: 8 220VAC

3 IGBT-1200-MT型背面板圖

 

 

六:華科智源IGBT測(cè)試儀制造標(biāo)準(zhǔn)

華科智源IGBT測(cè)試儀HUSTEC-1200A-MT除滿足本技術(shù)規(guī)格書的要求外,在其設(shè)計(jì)、制造、試驗(yàn)、檢定等制程中還應(yīng)滿足以下標(biāo)準(zhǔn)的新版本。

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