浪涌電流是電路異常引起的并使器件結(jié)溫超過額定結(jié)溫的不重復(fù)zui大過載電流, 晶閘管浪涌電流測試臺用于檢驗(yàn)晶閘管的浪涌電流過載能力, 主回路采用LC振蕩直接放電法, 浪涌電流接近正弦半波 ?？刂苹芈凡捎脜g片機(jī)控制,所測參數(shù)均采用數(shù)字表顯示;是晶閘管和整流管等半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)、應(yīng)用廠家的必備測試設(shè)備 。
一． 簡 介
該設(shè)備適用于對整流二極管、晶閘管的浪涌電流（ITSM/IFSM）及峰值電壓（VTSM/VFSM）特性進(jìn)行測試。測試臺的測試方法符合國際電工委員會IEC標(biāo)準(zhǔn)及機(jī)械部JB/T7026-94標(biāo)準(zhǔn)和國標(biāo)GB4024-83。
二．主要技術(shù)指標(biāo)
浪涌電流（ITSM/IFSM）測試范圍：5~500A
電流分檔調(diào)節(jié)，數(shù)字表顯示：5~20A分辨率0.1A精度±3%,
20A~500A分辨率1A，精度±3%；
電流波形：正弦半波，電流底寬10ms±10%；
測試頻率：單次;
不含反向電壓；
具有峰值電壓測試功能（電流測試范圍同上）；
峰值電壓（VTSM/VFSM）測試范圍：0.30~5.00V，分辨率0.01V，精度±3%，數(shù)字顯示。
三．測試原理：
電力電子器件在工作時，有時要承受較大的沖擊電流，器件的用途不同，要求器件能承受浪涌電流的能力也不同，為了檢測器件承受浪涌電流的能力，可產(chǎn)生一個大的浪涌電流施加于被測器件上，從而檢測被測器件是否能承受大浪涌電流的沖擊。
在施加浪涌電流時，要求被測器件的結(jié)溫在規(guī)定的溫度條件下測試。浪涌電流測試的電路原理圖如下：
K：電流電子開關(guān)（SCR）；
FL：浪涌電流取樣單元(分流器)；
V：電容充電電壓；
DUT: 被測元件；
當(dāng)按下測試按鈕時，K開關(guān)接通，通過電容放電和電感對電流產(chǎn)生感抗形成正弦半波，通過被測元件，波形如下圖；
