集成電路 IC卡高低溫測(cè)試
集成電路 IC 卡高低溫測(cè)試原因：集成電路 IC 卡在出廠前必須經(jīng)過(guò)環(huán)境測(cè)試，用來(lái)模擬集成電路在不同工作環(huán)境中的性能，inTEST-Temptronic 高低溫測(cè)試機(jī)憑借封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路專(zhuān)用高低溫測(cè)試機(jī)協(xié)助廠商完成例如高低溫循環(huán)測(cè)試 Thermal cycle、冷熱沖擊測(cè)試 Thermal stock、老化測(cè)試等試驗(yàn)。inTEST-Temptronic 高低溫測(cè)試機(jī)每秒可快速升溫/降溫 18 度、測(cè)試溫度精度高達(dá)±1℃，特別適合大規(guī)模集成電路的高低溫電性能檢測(cè)。

集成電路 IC 卡高低溫測(cè)試客戶(hù)案例一：上 海伯東客戶(hù)是一家利用 300mm 晶圓進(jìn)行芯片生產(chǎn)的半導(dǎo)體廠商，經(jīng)過(guò)技術(shù)選型，采購(gòu) inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成電路 IC 卡高低溫測(cè)試。Temptronic ATS-505 臺(tái)式設(shè)計(jì)，體積輕巧，測(cè)試溫度范圍：-20°C 至 +225°C，采用旋鈕式控制面板，操作直觀。

Temptronic 集成電路高低溫測(cè)試方法：客戶(hù)采用 Air Mode 模式直接測(cè)試：
Temptronic ATS-505 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理，然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫；將被測(cè)電路IC卡放置在熱流罩位置，根據(jù)操作員設(shè)定，噴出 和設(shè)定溫度相差±1℃的氣流，從而進(jìn)行電路板的高低溫測(cè)試。inTEST ATS-505 高低溫測(cè)試機(jī)自帶過(guò)熱溫度保護(hù)系統(tǒng)，出廠設(shè)置溫度 +230°C，操作員可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn)，當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)置溫度時(shí)，測(cè)試機(jī)將自動(dòng)停機(jī)。

集成電路 IC 卡溫度測(cè)試客戶(hù)案例二：上海伯東客戶(hù)是一家 IC 卡生產(chǎn)企業(yè)，經(jīng)過(guò)技術(shù)選型，采購(gòu) Temptronic ThermoStream ATS-535 高低溫測(cè)試機(jī)，ATS-535 內(nèi)置空壓機(jī)，溫度測(cè)試范圍：-60°C 至 +225°C，適用于實(shí)驗(yàn)室內(nèi)無(wú)空壓系統(tǒng)的客戶(hù)，方便移動(dòng)。
集成電路 IC 卡溫度測(cè)試方法：客戶(hù)采用 DUT Mode 模式測(cè)試：
1、將待測(cè) IC卡和溫度傳感器放置在測(cè)試腔中
2、操作員設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍
3、啟動(dòng) ThermoStream ATS-535 ，利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理，然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫；氣流通過(guò)熱流罩進(jìn)入測(cè)試腔
4、測(cè)試腔中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前腔體內(nèi)溫度，inTEST ATS-535 高低溫測(cè)試機(jī)自帶過(guò)熱溫度保護(hù)系統(tǒng)，出廠設(shè)置溫度 +230°C，操作員可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn)，當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)置溫度時(shí)，測(cè)試機(jī)將自動(dòng)停機(jī)。

鑒于信息保密，更詳細(xì)的 Temptronic 集成電路IC 卡高低溫測(cè)試方法 歡迎撥打電話(huà)：021-5046-3511

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創(chuàng)立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收購(gòu)，成為在美國(guó)設(shè)立的超高速溫度環(huán)境測(cè)試機(jī)的首家制造商。而 Thermonics 創(chuàng)立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收購(gòu)，使 inTEST 更強(qiáng)化高低溫循環(huán)測(cè)試以及溫度沖擊測(cè)試領(lǐng)域的實(shí)力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發(fā)技術(shù)發(fā)展出獨(dú)創(chuàng)的溫度環(huán)境測(cè)試機(jī)，將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進(jìn)化成 inTEST ThermoStream  ATS 超高速溫度環(huán)境測(cè)試系列產(chǎn)品。上海伯東作為 inTEST 中國(guó)總代理，全權(quán)負(fù)責(zé) inTEST 新品銷(xiāo)售和售后維修服務(wù)。
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上海伯東主營(yíng)真空品牌:德國(guó) Pfeiffer 真空設(shè)備;美國(guó) Brooks Polycold 冷凍機(jī);美國(guó) KRI 考夫曼離子源;美國(guó) HVA 真空閘閥:美國(guó) inTEST(Temptronic)高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī);日本 NS 離子蝕刻機(jī)等。
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