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JCI-155v6 靜電衰減分析儀
JCI-155v6 靜電衰減分析儀（電暈放電法）
?美國航空和宇宙航行局（NASA）采用產(chǎn)品
?IEC61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備
?可以測試固體，粉體，液體材料的靜電衰減時間
?同時測試靜電衰減時間和電容負載
?可直接放置在成型材料上測試
?量程：10毫秒-99小時
?分辨率：10毫秒
?電暈放電電壓：0-9.9KV（可以選擇正負極性）
?衰減比例：可設(shè)置1%-99%
?同時測量環(huán)境溫濕度
?特別設(shè)計氣閘效應(yīng)，消除殘留空氣離子干擾
?高精度靜電壓測試探頭
?配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量，并計算出電容負載
?配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期
?配套JCI-Graph軟件遠端控制儀器，顯示數(shù)據(jù)和衰減曲線，形成報告，分析/打印/儲存數(shù)據(jù)。
品牌: JCI
制造商: Chilworth Technology Ltd
產(chǎn)地: 英國
訂購編號: 描述:
JCI155v6 包含以下物品
測試儀
JCI176樣品臺, 用于測試平面材料, 可以測試材料電荷負載
JCI173樣品杯, 用于測試粉體和液體
測試儀和樣品臺連接纜線, 1條
接地線, 2條
長USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于連接儀器和電腦
短USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于外接U盤
配套軟件
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